El probador integral de adaptadores es un dispositivo automático de prueba de fuentes de alimentación que mejora la eficiencia de las pruebas.
1. Protección contra sobretensión (OVP)
Simula la sobretensión de salida para verificar si el circuito de protección corta la salida a tiempo.
2. Protección contra sobrecorriente (OCP)
Fuerza la sobrecorriente de salida para detectar si el mecanismo de protección es efectivo.
3. Protección contra cortocircuitos (SCP)
Cortocircuita la salida directamente y observa si el adaptador puede recuperarse o apagarse automáticamente.
4. Protección contra sobretemperatura (OTP)
Activa la condición de sobretemperatura a través de la caja de alta temperatura o el elemento calefactor para verificar la función de protección.
5. Protección contra subtensión/sobretensión de entrada
Prueba la respuesta de protección cuando el voltaje de entrada es anormal.
En las pruebas de rendimiento de los productos de fuentes de alimentación, los equipos de prueba de fuentes de alimentación pueden reemplazar la mano de obra manual, transformando las pruebas manuales tradicionales en pruebas automatizadas actuales, mejorando así la eficiencia de la producción. Al mismo tiempo, se compromete a mejorar la simplicidad, flexibilidad y amplia aplicabilidad del funcionamiento de los equipos de prueba de fuentes de alimentación.
Hoy en día, la industria manufacturera está experimentando rápidos avances tecnológicos, especialmente con requisitos de calidad cada vez mayores para los productos de fuentes de alimentación, que presentan procesos de producción de alta precisión y automatizados. Por esta razón, Chuangrui Electronics, basándose en las demandas del mercado y aprovechando más de diez años de experiencia en I+D, ha desarrollado varios equipos de prueba para productos de fuentes de alimentación, como sistemas de prueba de pilas de carga, sistemas de prueba de fuentes de alimentación de adaptadores, sistemas de prueba de cargadores/bancos de energía y sistemas de prueba de fuentes de alimentación de computadoras. Sistemas de prueba de fuentes de alimentación de inversores, sistemas de prueba de fuentes de alimentación LED, sistemas de prueba de fuentes de alimentación móviles, sistemas de prueba de fuentes de alimentación industriales y otros instrumentos de prueba.
Elementos de prueba para el sistema de prueba de fuentes de alimentación conmutadas:
| Elementos de prueba |
Elementos de prueba |
| Medición bajo LED.Modo |
Seguimiento |
| Corriente CC bajo Modo C.V. |
Prueba de cortocircuito |
| Ruido pico a pico |
Corriente de cortocircuito |
| Ruido pico a pico de corriente |
Protección OV |
| Ruido pico a pico de voltaje |
Protección UV |
| Tiempo de respuesta transitoria |
Protección OL |
| Pico transitorio |
Protección OP |
| Regulación de voltaje |
Ajuste en prueba |
| Regulación de corriente |
Caída de ciclo de CA |
| Tiempo de encendido |
Simulación PLD |
| Tiempo de subida |
Lectura/escritura GPIB |
| Tiempo de caída |
Lectura/escritura 232 |
| Tiempo de retención |
Lectura/escritura USB |
| Prueba de corriente de irrupción |
Control de señal TTL |
| Señal de buena alimentación |
Control de relé |
| Señal de fallo de alimentación |
Escaneo de código de barras |
| Señal P/S ON |
Prueba dinámica |
| Secuencia de encendido |
Especificación bajo Modo C.P. |
| Secuencia de apagado |
Corriente de salida CC |
| Eficiencia |
Voltaje de salida CC |
| Corriente RMS de entrada |
Prueba de rizado de corriente |
| Potencia de entrada |
Corriente de atenuación |
| Factor de potencia de entrada |
Frecuencia de atenuación |
| Rampa de voltaje de entrada |
Período de atenuación |
| Rampa de frecuencia de entrada |
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